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一、電子元件參數(shù)的影響

1.隨著溫度的變化，電阻的阻值會發(fā)生相應(yīng)的改變且遵循一定的溫度系數(shù)規(guī)律。舉例來說，在一般情況下，金屬膜電阻

阻值就會因為溫度升高而出現(xiàn)增大的現(xiàn)象，部分熱敏電阻則會因為負溫度系數(shù)明顯的特點反而在溫度升高時出現(xiàn)阻值減

小的情況。儀器電路中的電阻通常用于分壓和限流，其阻值一旦發(fā)生變化，就會引發(fā)電路中電流和電壓分配產(chǎn)生改變，

這將導(dǎo)致測量信號放大倍數(shù)和偏置電壓等參數(shù)受到影響。

2.電容容量也會受到溫度變化帶來的影響，具體來說，一些陶瓷電容會因為溫度變化帶來介質(zhì)常數(shù)改變的問題，使電容

的容量產(chǎn)生改變；部分電解質(zhì)電容則會在溫度升高的時候，出現(xiàn)其內(nèi)部電解質(zhì)導(dǎo)電性增強的情況，這將使電容的容量略

有增加。電容在電路中一般用于耦合、濾波，當電容的容量發(fā)生改變就會對信號耦合效率、電路頻率特性等造成一定的

影響，比如濾波會因為容量變化導(dǎo)致其效果變差，增加電路中的噪聲。

3.以集成電路、晶體管等為代表的半導(dǎo)體器件也會受到溫度變化的影響，這主要是因為溫度變化會對半導(dǎo)體遷移率、載

流子濃度等參數(shù)造成影響。舉例來說，晶體管在溫度升高的時候，其基極 - 發(fā)射極電壓就會出現(xiàn)減小的情況，而電流放

大系數(shù)則會出現(xiàn)增大，從而導(dǎo)致晶體管的工作點發(fā)生偏移，最終造成放大器的增益、線性度等相關(guān)性能指標產(chǎn)生改變。

另外，對集成電路來說，溫度的變化還會對其內(nèi)部各個元件的性能匹配造成影響，這對整個電路的功能與穩(wěn)定性都會帶

來一定的負面影響。

二、電路噪聲的影響

1.在任何溫度下，電路中的電子元件都會產(chǎn)生一定的熱噪聲，且其大小是和溫度成正比的。隨著溫度的升高，電子元件

內(nèi)部的電子熱運動會出現(xiàn)加劇的現(xiàn)象，增加熱噪聲的功率。舉例來說，電阻熱噪聲的電壓均方值和溫度、電阻值、帶寬

成正比。熱噪聲疊加在測量信號上，會使信號的信噪比降低，而噪聲電平一旦過高，就可能掩蓋掉微弱的測量信號，對

測量精度產(chǎn)生影響。

2.溫度變化除了引起熱噪聲，還會帶來其他類型的噪聲變化。比如，在部分傳感器電路中，當溫度發(fā)生變化，傳感器的

噪聲特性也會發(fā)生相應(yīng)的改變，這將對整個電路噪聲水平產(chǎn)生一定程度上的影響。另外，溫度的變化還可能導(dǎo)致電路中

的焊點、連接點等部位的接觸電阻產(chǎn)生改變，引發(fā)額外的噪聲問題。

三、電路穩(wěn)定性的影響

1.當電子元件參數(shù)隨著溫度產(chǎn)生變化，儀器的電路就可能出現(xiàn)零點漂移的問題。舉例來說，在放大器的電路中，如果溫度

發(fā)生改變，就會引起晶體管參數(shù)的變化，這會導(dǎo)致放大器輸出直流電平產(chǎn)生偏移，對測量信號的準確性造成負面影響。特

別是對于微弱信號的測量，一旦發(fā)生零點漂移就會導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)較大誤差的情況。

2.電路中的電感、電容等元件參數(shù)會因為溫度變化造成電路頻率特性改變的問題，舉例來說，一個濾波電路具有特定截止

頻率，因為電容的容量會隨著溫度發(fā)生變化，其截止頻率就可能發(fā)生偏移，而這將對不同頻率信號的放大倍數(shù)與濾波效果

產(chǎn)生一定影響，導(dǎo)致整個電路對測量信號的穩(wěn)定性與處理能力受到負面影響。電路頻率特性如果變化較大，還可能導(dǎo)致鹽

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